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Kim, Dong-Min (Dep't of Mat. Sci. and Eng., Hongik University) Kim, Dae-Sup (Dep't of Mat. Sci. and Eng., Hongik University) Ro, Jae-Sang (Dep't of Mat. Sci. and Eng., Hongik University) Choi, Kyu-Hwan (Samsung SDI CO., LTD.) Lee, Ki-Yong (Samsung SDI CO., LTD.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
1,072 - 1,075 (4page)

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Ion shower doping using a source gas of $PH_3/H_2$ was conducted on excimer-laser-annealed (ELA) Poly-Si. As-implanted damage is accumulated more and more with the increase of an acceleration voltage and a doping time. In this study we found that dopant-activation is relatively a rapid kinetic-process while damage-recovery is not.

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