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학술저널
저자정보
조규준 (한국전자통신연구원) 장우진 (한국전자통신연구원) 이훈기 (한국전자통신연구원) Jae-Kyoung Mun (ETRI)
저널정보
한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials Vol.25 No.3
발행연도
2024.6
수록면
365 - 369 (5page)
DOI
10.1007/s42341-024-00529-0

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Lateral Schottky barrier diodes (SBD) were fabricated on a molecular beam epitaxy (MBE) grown, Si-doped β -Ga2O3 wafer measuring 1 cm by 1.5 cm. These devices featured varying anode to cathode distances and included anode connected fi eld plate structures. A device with a 25 μm anode to cathode spacing exhibited a high breakdown voltage exceeding 3.6 kV. A smaller device with a 10 μm anode to cathode spacing demonstrated a R on,sp (specifi c on resistance) of 0.1508 Ω·cm 2 and a power fi gure of merit of 18.87 MW/cm 2. The incorporation of titanium, characterized by a relatively low work function, as the Schottky contact enabled the achievement of a very low turn-on voltage and a sub-60 mV/dec subthreshold swing.

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