효율적인 Partial Scan 설계 알고리듬

金倫弘 ,  新載興

전기학회논문지 P

2004 .12

Partial Scan Design Based on Levelized Combinational Structure

Sung-Ju Pa ,  k

Journal of Electrical Engineering and Information Science

1997 .06

대규모 집적회로 설계를 위한 무고정 부분 스캔 테스트 방법 ( No-Holding Partial Scan Test Method for Large VLSI Designs )

노현철 ,  이동호

전자공학회논문지-C

1998 .03

Functional-power-aware Partial Gating Method for Low Power Scan-shift

Kyongjun Noh ,  Taehee Lee ,  Jun dong Cho

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2018 .02

Efficient Parallel Scan Test Technique for Cores on AMBA-based SoC

Jaehoon Song ,  Jihun Jung ,  Dooyoung Kim 외 2명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2014 .06

Efficient Low-power Scan Test Method based on Exclusive Scan and Scan Chain Reordering

Dooyoung Kim ,  Jinuk Kim ,  Muhammad Ibtesam 외 4명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2020 .08

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

A New Scan Slice Encoding Scheme with Flexible Code for Test Data Compression

Keun-Soo Lee ,  Hyuntae Pa ,  k 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2010 .11

Secure Memory의 성능 Overhead 분석

석찬희 ,  홍석인

한국정보과학회 학술발표논문집

2019 .12

Low Power Scan Chain Reordering Method with Limited Routing Congestion for Code-based Test Data Compression

Dooyoung Kim ,  M. Adil Ansa ,  i 외 3명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2016 .10

Line Scanning Performance 향상에 관한 연구

송우섭 ,  이승우 ,  이정률

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

C-Scan 초음파 영상 컬러화 및 용접 품질 자동 평가 시스템

김태규 ,  권성근

멀티미디어학회논문지

2018 .11

삽입 실시간 디스크 스케줄링기법과 양방향 SCAN기법

이덕용 ,  박창현 ,  조행래

한국정보과학회 학술발표논문집

2004 .10

IEEE 1149.1 표준에 근거한 다중 클럭을 이용한 단일 캡쳐 스캔 설계에 적용되는 경계 주사 테스트 기법에 관한 연구

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2007 .05

A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

피니싱 장비의 스캔 장치 특성 실험

임선종

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2015 .05

A Novel High Performance Scan Architecture with Dmuxed Scan Flip-Flop (DSF) for Low Shift Power Scan Testing

Jung-Tae Kim ,  Insoo Kim ,  Keon-Ho Lee 외 4명

Journal of Electrical Engineering & Technology

2009 .12

Laser Scanning Data를 이용한 건물추출에 관한 연구

김형태 ,  오재홍 ,  김용일

대한토목학회 학술발표회 논문집

2000 .10

Master-Slave 기법을 적용한 System Operation의 동작 검증

金吝洙 ,  閔炯福

전기학회논문지

2009 .01

Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing in SoCs

Jun-Mo Jung ,  Jong-Wha Chong

[ETRI] ETRI Journal

2003 .10