집적회로의 설계

이충웅

대한전자공학회 기타 간행물

1968 .01

테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조

양명훈 ,  김용준 ,  박재석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

VLSI 時代에 있어서 집적회로 제조상의 문제점들

黃好正

전기의세계

1983 .06

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

테스트 스케줄링을 이용한 VLSI 회로의 스캔 테스터블 설계

이재선 ,  류근장 ,  손윤식 외 5명

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .04

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술

허용민 ,  최영철

한국인터넷방송통신학회 논문지

2014 .01

배선 길이 최소화를 위한 그룹화된 스캔 체인 재구성 방법

이정환 ,  임종석

전자공학회논문지-SD

2002 .08

구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

테스트 시간 단축을 위한 새로운 스캔 설계방식 ( NSOM : A New Scan Design Method for Test Time Reduction )

이영호 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

집적회로의 기본

오현위

대한전자공학회 기타 간행물

1968 .01

VLSI Design

경종민

대한전자공학회 단기강좌

1983 .01

집적회로의 제작 (Ⅰ)

안병성

대한전자공학회 기타 간행물

1968 .01

집적회로의 제작 ( Ⅱ )

김근창

대한전자공학회 기타 간행물

1968 .01

A Partial Scan Test Method without the Data Holding Overhead

Dong Ho Lee ,  Hyun Chul Noh

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

테스트 패턴 생성이 용이한 VLSI 논리 설계 방식 ( A VLSI Logic Design Structure for Reduction of Test pattern Generation Effort )

한석붕 ,  김은성 ,  정준모 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

집적회로의 응용

김영권

대한전자공학회 기타 간행물

1968 .01

순차깊이를 고려한 부분 스캔 설계 ( Partial Scan Design Considering The Sequential Depth )

진상헌 ,  임종석

대한전자공학회 학술대회

1995 .01