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새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구 ( An Efficient Path-Delay Fault Test Generator Using New Logic Values for Scan Design Environments )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
미지구조 기능 블록에 대한 경로 지연고장 검사입력 생성기
전기학회논문지
1997 .02
순차 회로의 지연 고장 검출을 위한 새로운 스캔 설계
전기학회논문지 A
1999 .09
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계 ( A New IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Faults )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
기판 검사를 위한 다중 스캔 경로 제어기의 설계 및 구현
정보과학회논문지(C)
1996 .12
마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트
전자공학회논문지-SD
2001 .08
지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술
한국인터넷방송통신학회 논문지
2014 .01
구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계
정보과학회논문지(A)
1999 .09
An Efficient Method of Path-Delay Test Generation for Standard Scan Designs
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1996 .01
순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조
전자공학회논문지-SD
2000 .11
경계면 - 스캔 기저 구조를 위한 지연시험 ( Delay Test for Boundary - Scan based Architectures )
전자공학회논문지-A
1994 .06
지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭 ( Fault Coverage Metric for Delay Fault Testing )
전자공학회논문지-SD
2001 .04
경계 주사 아키텍처를 이용한 지연 고장 테스트 기법 ( Delay Fault Testing Techniques Using Boundary - Scan Architecture )
전자공학회논문지-A
1994 .11
서비스개발환경에서 코드 생성기의 설계 및 구현 ( The Design and Implementation of Code Generator in the Service Creation Environment )
한국통신학회 학술대회논문집
1997 .01
조합회로에 대한 게이트 지연 검사 패턴 생성기의 속도 향상에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
조합회로에 대한 게이트 지연 검사 패턴 생성기의 속도 향상에 관한 연구 ( A Study on Speed Improvement of Gate Delay Test Generator for Combinational Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
단일 입력 변환을 이용한 가중화 랜덤 로버스트 지연 테스트 생성기 ( A Weighted Random Robust Delay Test Generator Using the Single Input Change )
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
서비스개발환경에서 코스 생성기의 설계 및 구현 ( The Design and Implementation of Code Generator in the Service Creation Environment )
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
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