순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조

許璟會 ,  康容碩 ,  姜成昊

전자공학회논문지-SD

2000 .11

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

순차깊이를 고려한 부분 스캔 설계 ( Partial Scan Design Considering The Sequential Depth )

진상헌 ,  임종석

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

표준 스캔 설계 환경을 위한 경로 지연 고장 검사입력 생성기 ( A Path-Delay Fault Test Generator for Standard Scan Design Environments )

강용석 ,  강성호

전자공학회논문지-A

1996 .09

지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계

김태형 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계 ( A New IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Faults )

김태형 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

유사조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지탈 순차 회로의 테스트 기법 연구

閔炯福

전기학회논문지

1994 .03

지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술

허용민 ,  최영철

한국인터넷방송통신학회 논문지

2014 .01

Computer Aided Design of Sequential Logic Circuits (Case of Synchronous Sequential Logic Circuits)

金敬植 ,  趙東燮 ,  黃熙隆

전기학회논문지

1984 .04

마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트

康容碩 ,  許璟會 ,  姜成昊

전자공학회논문지-SD

2001 .08

Computer-Aided Design of Sequential Logic Circuits (Case of Asynchronous Sequential Logic Circuits)

金炳喆 ,  趙東燮 ,  黃熙隆

전기학회논문지

1984 .02

회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭 ( Fault Coverage Metric for Delay Fault Testing )

김명균 ,  강성호 ,  한창호 외 1명

전자공학회논문지-SD

2001 .04

조합회로와 순서회로를 위한 경계면 스캔 구조에서의 지연시험 ( Delay test for combinational and sequential circuit on IEEE 1149.1 )

이창희 ,  윤태진 ,  안광선

전자공학회논문지-C

1998 .02

고장검출이 용이한 논리회로 설계에 관한 연구

김호경 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

회로 분할에 의한 부분 스캔 ( Partial Scan Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

회로 분할에 의한 부분 스캔

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .06

자체 스캔 체인을 이용한 Built-In Self-Test 구조에 관한 연구

한진욱 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2002 .03