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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2007
- 발행연도
- 2007.7
- 수록면
- 236 - 237 (2page)
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As technology scales into sub-90nm domain, manufacturing varation becomes an increasingly significant portion of circuit delay. Therefore, delays must be modeled as statistical distribution during both analysis and optimization. This thesis applies incremental, parametric statistical stati ... 전체 초록 보기
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