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Partial Scan Design Based on Levelized Combinational Structure
Journal of Electrical Engineering and information Science
1997 .06
Partial Scan Design Based on Levelized Combinational Structure
Journal of Electrical Engineering and Information Science
1997 .06
조합회로와 순서회로를 위한 경계면 스캔 구조에서의 지연시험 ( Delay test for combinational and sequential circuit on IEEE 1149.1 )
전자공학회논문지-C
1998 .02
부분 변환에 의한 조합회로의 타이밍 최적화 기법 ( A Combinational Timing Optimization Technique By Local Transformation )
대한전자공학회 학술대회
1993 .07
부분 변환에 의한 조합회로의 타이밍 최적화 기법
대한전자공학회 학술대회
1993 .07
출력순서를 이용한 조합회로의 고장검출에 관한 연구 ( A Study on the Fault Detection Using Output Sequence in Combinational Logic Networks )
전자공학회지
1980 .08
면적 제약조건하의 저전력 조합회로 설계를 위한 분할 기반 합성 알고리듬 ( A Partitioning-based Synthesis Algorithm for the Design of Low Power Combinational Circuits under Area Constraints )
전자공학회논문지-C
1998 .07
구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계
정보과학회논문지(A)
1999 .09
출력 순서를 이용한 조합회로의 고장검출에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1980 .01
순차깊이를 고려한 부분 스캔 설계 ( Partial Scan Design Considering The Sequential Depth )
대한전자공학회 학술대회
1995 .01
효율적인 Partial Scan 설계 알고리듬
전기학회논문지 P
2004 .12
적기계탐색법에서의 부분스캔설계 ( Partial Scan Design in the Product Machine Traversal Method )
대한전자공학회 학술대회
1996 .01
회로 분할에 의한 부분 스캔
대한전자공학회 학술대회
1997 .06
회로 분할에 의한 부분 스캔 ( Partial Scan Based on Circuit Partitioning )
대한전자공학회 학술대회
1997 .07
부분 스캔을 고려한 최적화된 상태 할당 기술 개발
대한전자공학회 학술대회
1999 .11
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
유사조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지탈 순차 회로의 테스트 기법 연구
전기학회논문지
1994 .03
원형스캔 레이더 식별을 위한 스캔변수 추정기법
전자공학회논문지-SP
2006 .11
BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조
전자공학회논문지-SD
2006 .06
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