출력순서를 이용한 조합회로의 고장검출에 관한 연구 ( A Study on the Fault Detection Using Output Sequence in Combinational Logic Networks )

한희 ,  박규태

전자공학회지

1980 .08

순차 회로의 지연 고장 검출을 위한 새로운 스캔 설계

許璄會 ,  康容碩 ,  姜成昊

전기학회논문지 A

1999 .09

완전한 조합회로화에 의한 부분 스캔 설계 ( Partial Scan Design Based on the Levelized Combinational Structure )

박성주 ,  김루진 ,  박종욱

대한전자공학회 학술대회

1996 .07

출력 순서를 이용한 조합회로의 고장검출에 관한 연구

한희 ,  박규태

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

유사조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지탈 순차 회로의 테스트 기법 연구

閔炯福

전기학회논문지

1994 .03

부분 변환에 의한 조합회로의 타이밍 최적화 기법 ( A Combinational Timing Optimization Technique By Local Transformation )

양세양 ,  송해진 ,  김종안 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

부분 변환에 의한 조합회로의 타이밍 최적화 기법

양세양 ,  김종안 ,  김호중 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

경계면 - 스캔 기저 구조를 위한 지연시험 ( Delay Test for Boundary - Scan based Architectures )

강병욱 ,  안광선

전자공학회논문지-A

1994 .06

면적 제약조건하의 저전력 조합회로 설계를 위한 분할 기반 합성 알고리듬 ( A Partitioning-based Synthesis Algorithm for the Design of Low Power Combinational Circuits under Area Constraints )

최익성 ,  김형 ,  황선영

전자공학회논문지-C

1998 .07

경계면 - 스캔구조에서의 지연시험에 대한 연구

이창희 ,  윤태진 ,  김상진 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

Built-In Self Test 방식에 의한 순서회로의 설계 ( Design of Sequential Circuit Using Built-In Self Test Method )

노승용 ,  임인칠

전자공학회논문지

1987 .09

지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계 ( A New IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Faults )

김태형 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계

김태형 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조

許璟會 ,  康容碩 ,  姜成昊

전자공학회논문지-SD

2000 .11

조합회로에 대한 게이트 지연 검사 패턴 생성기의 속도 향상에 관한 연구 ( A Study on Speed Improvement of Gate Delay Test Generator for Combinational Circuits )

박승용 ,  김규철

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

조합회로에 대한 게이트 지연 검사 패턴 생성기의 속도 향상에 관한 연구

박승용 ,  김규철

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

15V 논리를 이용한 비동기 회로 시험패턴생성

김도형 ,  홍성제

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

시이컨셜회로 구현에 관한 연구

박춘명

대한전자공학회 학술대회

2012 .11

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

조합논리회로에 대한 개선된 자동시험패턴 발생에 대한 연구 ( Automatic Test pattern Generation of Combinational Logic Circuits )

안광선 ,  강병욱 ,  김종훈

특정연구 결과 발표회 논문집

1988 .01