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김두현 (서울대학교) 박병국 (서울대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2007년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2007.11
수록면
437 - 438 (2page)

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This paper presents a detailed study of the retention characteristics in scaled multi-bit SONOS flash memories. By calculating the oxide field and tunneling currents, we evaluate the charge trapping mechanism. We calculate transient retention dynamics with the ONO fields, trapped charge, and tunneling currents. All the parameters were obtained by physics-based equations and without any fi ... 전체 초록 보기

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