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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
저널정보
한국마이크로전자및패키징학회 마이크로전자 및 패키징학회지 마이크로전자 및 패키징학회지 제15권 제1호
발행연도
2008.1
수록면
33 - 38 (6page)

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Kirkendall void는 전해도금 Cu/Sn-Ag 솔더 접합부에서 형성되었으며 Cu 도금욕에 함유되는 첨가제에 의존한다. 첨가제로 사용된 SPS의 함량의 증가와 함께 150oC에서 열처리 후 많은 양의 Kirkendall void가 Cu/Cu3Sn 계면에 존재하였다. AES 분석은 void 표면에 S가 편석되어 있음을 보여주 었다. Cu/Cu3Sn 계면을 따라 파괴된 시편에서 Cu, Sn, S peak만 검출되었고 AES 깊이 프로파일에서 S 는 급격하게 감소하였다. Cu/Cu3Sn 계면에서 S 편석은 계면에너지를 낮추고 Kirkendall void 핵생성을 위한 에너지장벽을 감소시킨다. 낙하충격시험은 SPS를 사용하여 도금된 Cu의 경우 Kirkendall void가 형 성된 Cu/Cu3Sn 계면에서 파괴가 진행되고 급격하게 신뢰성이 감소됨을 보였다.

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