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한세진 (한국기술교육대학교 전자공학과) 정철화 (한국기술교육대학교 기계공학과) 차재원 (한국기술교육대학교 전자공학과) 서화일 (한국기술교육대학교 기계공학과) 김광선
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 한국반도체장비학회지 한국반도체장비학회지 제1권 제1호
발행연도
2002.1
수록면
29 - 33 (5page)

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In the flip-chip process, the problem like electric defect or fatigue crack caused by the difference of CTE, between chip and substrate board had occurred. Underfill of flip chip to overcome this defects is noticed as important work developing in whole reliability of chip by protecting the chip against the external shock. In this paper, we introduce the underfill methods using mold and plunge and improvement of process and reliability, and the advantage which can be taken from embodiment of device.

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