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최진우 (광운대학교 전자바이오물리학과) 황상혁 (광운대학교 전자바이오물리학과) 김우재 (광운대학교 전자바이오물리학과) 신기원 (광운대학교 전자바이오물리학과) 권희태 (광운대학교 전자바이오물리학과) 조태훈 (광운대학교 전자바이오물리학과) 우원균 ([주]원우시스템즈) 차성덕 ([주]원우시스템즈) 안병철 ([주]아바코) 박완우 ([주]아바코) 도재철 ([주]아바코) 권기청 (광운대학교 전자바이오물리학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제15권 제4호
발행연도
2016.1
수록면
27 - 32 (6page)

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In recent years, various researches have been conducted to improve process yields in accordance with miniaturization of semiconductor. APC(Advanced Process Control) is considered one of the methods to increase in process yields. APC is a process control technology that maintains optimal process conditions and improves the reliability of results by controlling and formulating the relationship among the various process parameters and results. We built up an optical diagnostic system with a three-channel spectrometer. The system detects signals those represent the changes of specific emission peaks intensity versus each reference and converts it into MFC control signals to get back the changes to the reference state. Controlling the MFC continues until the specific peak intensity changes into the normal state. Through this device, we tested a APC automatically responding to process changes during the plasma process. We could control gas flow while sputtering process on going and improve uniformity of plasma intensity with this system. Finally, we have got results those enhance the plasma intensity non-uniformity to 7.7% from 15.5%. Also, found unexpected oxygen flow what is estimated to be come out from IGZO target.

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