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Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 한국정밀공학회 2005년도 추계학술대회 논문요약집
발행연도
2005.10
수록면
591 - 594 (4page)

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Ion beam processing is one of the key technologies to realize maskless and resistless sub 50nm nano fabrication. Unwanted effects, however, may occur since an energetic ion can interact with a target surface in various ways. Depending on the ion energy, the interaction can be swelling, deposition, sputtering, re-deposition, implantation, damage, backscattering and nuclear reaction. Sputtering is the fundamental mechanism in ion beam induced direct patterning. Re-deposition and backscattering are unwanted mechanisms to avoid. Therefore understanding of ion beam-solid interaction should be advanced for further ion beam related research. In this paper we simulate some important interaction mechanisms between energetic incident ions and solid surfaces and the results are compared with experimental data. The simulation results are agreed well with experimental data.

목차

ABSTRACT
1. INTODUCTION
2. SPUTTERING
3. EMISSION OF SPUTTERED PARTICLES
4. BACKSCATTERING
5. CONCLUSION
REFERENCES

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