지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.16 No.5
- 발행연도
- 2016.10
- 수록면
- 624 - 629 (6page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
The influence of electron and hole (EH) distribution on two-transistor (2T) silicon-oxide-nitride- oxide-silicon (SONOS) embedded nonvolatile memory (eNVM) is investigated in terms of reliability. As PE (program/erase) cycles are repeated, it is observed that the electron distribution in the nitride layer becomes wider. It leads to the EH distribution mismatch, which degrades the reliability of 2T SONOS eNVM.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. RESULTS AND DISCUSSION
III. CONCLUSIONS
REFERENCES
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
[학술대회논문] - Y. Kwon / 2014 / Characterization of 64kB Test Chip for Touch Application on 90nm SONOS Technology / Proc. IEEE 6th International Memory Workchop : 1 ~ 4
[학술대회논문] - A. Furnemont / 2006 / Cycling behavior of nitride charge profile in NROM-type memory cells / Proc. 21st Non-Volatile Semicond. Memory Workshop : 66 ~ 67
[학술지(정기간행물)] - A. Padovani / 2008 / Hole distributions in erased NROM devices : profiling method and effects on reliability / IEEE Trans. Electron Devices 55 (1) : 343 ~ 349
[학술지(정기간행물)] - N. K. Zous / 2004 / Lateral migration of trapped holes in a nitride storage flash memory cell and its qualification methodology / IEEE Electron Devices Lett 25 (9) : 649 ~ 651
[기타자료] - / 2013 / Sentaurus Device User Guide Version: H-2013.03 / Synopsys
[학술대회논문] - A. Furnemont / 2006 / Cycling behavior of nitride charge profile in NROM-type memory cells / Proc. 21st Non-Volatile Semicond. Memory Workshop : 66 ~ 67
[학술지(정기간행물)] - A. Padovani / 2008 / Hole distributions in erased NROM devices : profiling method and effects on reliability / IEEE Trans. Electron Devices 55 (1) : 343 ~ 349
[학술지(정기간행물)] - N. K. Zous / 2004 / Lateral migration of trapped holes in a nitride storage flash memory cell and its qualification methodology / IEEE Electron Devices Lett 25 (9) : 649 ~ 651
[기타자료] - / 2013 / Sentaurus Device User Guide Version: H-2013.03 / Synopsys
함께 읽어보면 좋을 논문
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
-
SONOS 메모리 질화막 내 interface 및 bulk 트랩 밀도 추출 모델링
대한전자공학회 학술대회
2020 .08
-
Charge Spreading Effect of Stored Charge on Retention Characteristics in SONOS NAND Flash Memory Devices
Transactions on Electrical and Electronic Materials
2015 .01
-
Erase Speed Enhancement with Low Power Operation by Incorporating Boron Doping
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2021 .04
-
전하보유모델에 기초한 SONOS 플래시 메모리의 전하 저장층 두께에 따른 트랩 분석
반도체디스플레이기술학회지
2019 .01
-
Modeling and Verifi cation of Interface and Bulk Trap Level Density Extraction in SONOS Memory Charge Trapping Layer
Transactions on Electrical and Electronic Materials
2021 .01
-
SONOS NAND 플래시 메모리 소자에서의 Lateral Charge Migration에 의한 소자 안정성 연구
반도체디스플레이기술학회지
2019 .01
-
TFET 기반 gate-all-around(GAA) SONOS 메모리의 프로그램 성능 향상
대한전자공학회 학술대회
2022 .06
-
Extraction of Effective Charge Diffusivity in the Charge Trapping Layer of SONOS Flash Memory
Transactions on Electrical and Electronic Materials
2021 .08
-
3차원 SONOS 낸드 플래쉬 메모리 셀 적용을 위한 String 형태의 폴리실리콘 박막형 트랜지스터의 특성 연구
마이크로전자 및 패키징학회지
2017 .01
-
Improvement in Electrical Characteristics of BE-SONOS Using High-k Dielectrics in Tunneling Barrier
Transactions on Electrical and Electronic Materials
2021 .01
-
MONOS 플래시 메모리의 Nitride 트랩 분석
전자공학회논문지
2015 .08
-
기업의 환경, 보건, 및 안전 (EHS) 조직의 직무능력 개선과 환경변화 대응 방안
한국안전학회지
2016 .01
-
Polymeric Ion Conductors Based on Sono-polymerized Zwitterionic Polymers for Electrochromic Supercapacitors with Improved Shelf-Life Stability
한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집
2021 .10
-
Charge Migration Analysis of 3D SONOS NAND Flash Memory Using Test Pattern
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2020 .04
-
Investigation of Retention Characteristics Caused by Charge Loss for Charge Trap NAND Flash Memory
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2017 .10
-
A Study on the properties of silicon nitride thin films deposited with a diiodosilane (SiH₂I₂) precursor
대한전자공학회 학술대회
2021 .06
-
금속소재 종류에 따른 전자빔 미세홀 가공특성
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2020 .09
-
Morphology and Thermal Conductivity of Polyacrylate Composites Containing Aluminum Nitride, Silicon Carbide and Boron Nitride
한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집
2016 .10
-
Spray Deposited Metal Oxide Electron Transport and Hole Transport Layers for Perovskite Solar Cells
한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집
2018 .10
-
신뢰도지표를 활용한 신 가치기반신뢰도평가 (VBDRA) 기반의 배전 설비 투자 선택 방안 연구
전기학회논문지
2022 .02
이 논문의 저자 정보
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2017-569-001646096