단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법

한석봉 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10

조합 논리 회로의 경로 지연 고장 검출을 위한 가중화 임의 패턴 테스트 기법 ( A Weighted Random Pattern Testing Technique for Path Delay Fault Detection in Combinational Logic Circuits )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1995 .12

고장검출이 용이한 논리회로 설계에 관한 연구

김호경 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

유전알고리즘을 이용한 조합회로용 테스트패턴의 고장검출률 향상 ( Fault Coverage Improvement of Test Patterns for Combinational Circuit using a Genetic Algorithm )

박휴찬

Journal of Advanced Marine Engineering and Technology (JAMET)

1998 .09

경로 활성화 방법을 이용한 고장 시뮬레이션

허용민 ,  박동규 ,  이홍주 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1988 .10

테스트 용이도를 이용한 조합 회로의 효율적인 로보스트 경로 지연 고장 테스트 생성 ( Efficient Robust Path Delay Fault Test Generation for Combinational Circuits Using the Testability Measure )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1996 .02

조합 논리 회로의 경로 지연고장 검출을 위한 효율적인 가중화 임의 패턴 생성 방법 ( An Efficient Weighted Random Pattern Generation Method for Detection of a Path Delay Fault in a Combinational Logic Circuits )

이광훈 ,  안철회 ,  이재웅 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현

진명구 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

Self - Test가 용이한 CMOS 논리회로 설계

김영호 ,  민병헌 ,  조완교 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1990 .10

경로대수를 이용한 다이나믹 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for Dynamic CMOS Logic Circuits Using Path Algebras )

최원상 ,  박경훈 ,  박상욱 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

경로지연고장의 효율적인 동시성 고장시뮬레이션

손윤식 ,  이인학 ,  박준 외 6명

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

조합논리회로의 고장 검출율 개선을 위한 회로분할기법 ( Circuit Partitioning to Enhance the Fault Coverage for Combinational Logic )

노정호 ,  김상진 ,  이창희 외 2명

전자공학회논문지-C

1998 .04

새로운 조합논리회로의 성능최적화를 위한 알고리듬

양세양

한국정보과학회 학술발표논문집

1990 .10

신경회로망을 이용한 조합 논리회로의 테스트 생성 ( Test Generation for Combinational Logic Circuits Using Neural Networks )

김영우 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1993 .09

순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조

許璟會 ,  康容碩 ,  姜成昊

전자공학회논문지-SD

2000 .11

논리회로의 고장진단을 위한 퍼지테스트생성 기법

조재희 ,  강성수 ,  김용기

한국지능시스템학회 학술발표 논문집

1996 .11

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01